Model | VK-H1XP |
Overview | Extends the functionality of the Analysis Application VK-H1XAE. Automatic correction such as for uneven objects, measurement of volume, surface area, circumference, spherical curvature, plane angles, as well as observation position using a template etc., can be made. |
Микроскоп Keyence VK-H1XP
Analysis Function Extension Module
Описание
Получить КП
Для получения коммерческого предложения, пожалуйста, вышлите ваш запрос на электронную почту [email protected] с указанием требуемых позиций и реквизитами компании.
Категория: Микроскопы